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    每日經(jīng)濟新聞
    
    

          
  
          
   




      
          
        
          
          
            
            

                
          

     
  
          

          






    



























    
  


          
  
  
          
    
          
      
      首發(fā)快訊
      
          
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            精智達：DRAM晶圓老化測試設(shè)備進入驗證階段
        
          
        
        
          
          
            
          
          
            2023-09-13 11:03:08
          
        
          

        
          

        
          
        

      
          
      


      
      
          
        



        

        
        
          每經(jīng)AI快訊，精智達在投資者互動平臺表示，目前公司DRAM晶圓老化測試設(shè)備，已完成技術(shù)開發(fā)和測試等工作，進入驗證階段；DRAM測試機仍處于持續(xù)研發(fā)測試階段。
          

        


        
      
          
    
          


    
    
          
      
           責編  姚祥云
      
    
          

    

    
          
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